描述：HemiView葉面圖像分析系統(tǒng)通過處理影像數(shù)據(jù)文件來獲取與冠層結(jié)構(gòu)有關(guān)的，例如葉面積指數(shù)、光照間隙及間隙分布狀況。通過分析輻射數(shù)據(jù)的相關(guān)信息，能夠測算出冠層截獲的PAR以及冠層下方的輻射水平。其軟件可以計(jì)算輻射指標(biāo)、冠層指標(biāo)、測量地點(diǎn)的光線覆蓋狀況及直射與漫射光的分布等。
| 品牌 | DELTA-T | 價(jià)格區(qū)間 | 1萬-5萬 |
|---|---|---|---|
| 產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 |
HemiView葉面圖像分析系統(tǒng)功能和組成
葉面積測量，自動(dòng)辨別葉片損傷或病變面積，種子和根尖記數(shù)，圖形轉(zhuǎn)換、儲存和編輯。
使用照相分析，樣品圖像通過CCD 攝像機(jī)成像，然后由圖像截獲卡送到計(jì)算機(jī)中，圖像分析軟件對樣品圖像進(jìn)行分析處理。
組成：
圖像截獲卡：PCI 接口，用來俘獲影像數(shù)據(jù)供計(jì)算機(jī)處理；
CCD 攝像機(jī)：對樣品進(jìn)行攝影成像；
圖像分析軟件：對樣品的圖像進(jìn)行分析處理，P133 以上，英文WIN3.1、WIN95，98 系統(tǒng)；
HemiView植物圖像分析系統(tǒng)特點(diǎn)：
·交互式圖示定位工具：精準(zhǔn)記錄的圖像半球縱坐標(biāo)系統(tǒng)。補(bǔ)償磁場偏差；
·支持圖像分類：強(qiáng)度區(qū)分界限和干擾像素。圖像按照實(shí)時(shí)更新分類；
·圖像可多重和拆分查看：分類和色彩/灰色等比率查看，或?qū)⒄鶊D像拆分開瀏覽；
·圖像底片：圖像可轉(zhuǎn)換為底片模式進(jìn)行查看和分析；
·可給不同的天空區(qū)域定義號碼：天頂角和方位角定義范圍；
·單個(gè)樹的葉面積：直接可通過HemiView輸出單個(gè)樹的LAI；
·分析局部圖像：可以將圖像中不需要參與分析的部分排除；
·地點(diǎn)，鏡頭和太陽模型的參數(shù)：用戶可設(shè)定地點(diǎn)，鏡頭和太陽模式應(yīng)用到任何一個(gè)圖像中，方便從列表中選擇；
·定義鏡頭的特點(diǎn)：鏡頭方程是當(dāng)用戶使用了當(dāng)前鏡頭和老款類型提供的ΔT；
·輸出：分析結(jié)果可輸出為Excel兼容表格格式或文本格式；
·自定義輸出參數(shù)：用戶可根據(jù)不同的圖像定義不同的輸出參數(shù)。
HemiView葉面圖像分析系統(tǒng)技術(shù)指標(biāo)
1、可測量物體的最大尺寸：平板掃描：400×370 mm；傳送掃描：250×290 mm；
2、彩色CCD 攝像頭，681×582 pixels；
3、測量面積精度：≤4%；
4、圖象采集卡取樣頻率：實(shí)時(shí)取樣，1/ 25 秒（50Hz）；
5、圖象分析軟件分辨率：512×512 pixels，24 bit；
6、傳送裝置速率：60/100/140/190 mm/s；
7、傳送裝置樣品最大寬度為250mm，最大厚度為5mm；
8、帶有使卷曲葉片平展的聚丙烯片；
9、攝像機(jī)鏡頭支架高度：1150 mm；
